安全验证
, 3.2  技!术,设备 【 : 3.2.1 【 集成电路》封装技术发展十分迅!速封装不仅》起到集成电路芯片】内,键合点与外》部进行电气连—接的作用也为集成】电路芯片起到—机械或环境保护的作!用从而?。集成电路《芯片能够发挥正常】的功能并《保证:其具有高稳定性【和,可靠性 】 ,    由于集成电!路,的集成度《越来越高功能越来】越复杂相应地要求】集成电路封装密【度越来越大》引线数越来》越多而体积越来越】小重量越来越轻更新!。换代越来越》快封装结《构类型的《合理性和科学性【将直:接影响集成电路的质!量, ,     !20世?纪80年代》之前主?要,封装形式为通—孔,插装以TO型封【装和双列直》插封:装为代表集成电路】的,。功能数不高引线脚数!较,小不多于6480】年代后?进入表面《贴装时代以小—。外形封装《(SOP)和四边引!脚,。扁平封装(Q—FP)为代表大大提!高了引脚数和组装】密度最大引》。。脚数:达30?0同时塑封外—。形也分为方形扁平型!和小型外壳型90】年代后?球栅阵列(BG【A)封?装和:芯片尺寸封装(【。CSP)发展迅速这!一阶:。段主要封装类型有】BGA、CSP、W!LCSP和》SIP?等主要特点》是加宽?了引脚间距并采【用底:部,安装引脚的形—式大大促进了安装技!术的:进步和生产》效率的提高通—常,CSP都是将晶【圆切割成单》个IC芯片后再【实施后道《封装而WLCSP的!工序基本上》完全在已完》。。成前:工序的晶《圆上完成最后—才,将晶圆切《割成分?离的独立《电路90年代末进入!了三维堆叠(3D】。)封装时代通过在】。垂直:方,向上将多《层平面器件堆叠【起来并采用》。硅通孔技《术在垂?。直方向实现》通孔互连的系统级】。集,成这样可《以,减少封?装的尺寸和》重量:并可以将《不同:技术集成在同一封】装中缩短了》互,。连从而加快了信【号传递速度》降低了寄生效应和】功耗 】  :  据国际半导体技!术路线图《ITRS 》2012版的预测】T,SV及3D》集成在晶《圆厚:度、硅通孔直径【、对准精《度等继续《。向微细化方向发【展详见下表 ! 表1  —TSV及3》D集成晶圆》技术规格预测表 !。 ,。 《 》 》 3.2.3— , 集成电路封装【。测试工?。厂的产品的品种较多!产,能需求各不相—。。同,而且变?化较:。快因此在设备种类及!数量上需综合考【虑,并具有一定的灵【活性对于产能较【大的封装测试厂生产!设,备,需要较高的》自动化程《度以及较《高,的运行稳定》性 ?