安全验证
3  工】。艺设计 — 》 3.1》  一般规定— 《。 3.1【.1:  集成电路封装】材料成型之前的工】。序中引线和电—路暴露?在外因此《洁净度及温湿度要求!高于材料成型之【后的工?。序, : ?    《 通孔和凸》块,工艺与前工序工艺】类似因此环境要求参!照前工?序工艺确定》 , ? 3.《1.2  纯水水质!的确:定是参照目前集成】电路封装测试厂【。的工程实践纯水电阻!率,越高导电性越差【高,速冲击下越容易产生!。静,。。电静电?对,于芯:片划片加《工的危害主要表现】在两方面①静电积累!放电:造成放电氧化或击】穿等损伤芯片—;②硅屑等微—粒产:。生静电吸《附造成芯片表面不】容易清洗干》净因此可通过C【O2:。加入纯水《可降低纯《水,电阻率?防止清洗《降温时的静电产【生和积累烘干后C】O2变成气体挥【发,掉芯:。片表:面保持?纯净:但是CO《。2过量加《入水中会产生酸【性,腐,蚀影:响刀片寿《命因:。此必须严格控—制C:O2加入《。量 ?