安全验证
? 3:  工艺设》计 ? 》 , 3.《。。1  一般规—。。。定 ? : 3》.1.1 》 ,集成电路封装材料成!型之前?的工序中引线和【电路暴露在外因【此洁净?度及温湿度》要求:高于材料成型—之,后的:工,序  】   通《孔和凸块工艺与前】工序工艺类似因此环!境要求参照前—工,序工艺确定 】 : 3.1.2— , 纯水水质的确【。定是参照目前—集成电路封》装测试厂的》工程实践纯水电【阻率越?高导电?性越差高《。速冲击?下,越容易产《生静电静电对于【芯片划片加工的危害!主要表现在》两方面①静电—积累放电造成放电氧!。。化或击穿等损伤芯片!。;②:硅屑等微粒产生静】电,吸,附,。造成芯片《表面:不容易?清洗干?净因此可通过CO】2加入纯水可降低纯!水电:阻率防?止,清洗:降温时的静电产生】和积累烘干后CO】2变成气体挥发掉芯!片表:面保持纯净但是【C,O2过量加入水中】会产生酸性腐—。蚀,影响刀片寿命因此必!须,严格控制C》O2加入量 【