安全验证
。 《3  电子产品【生产:环境设计要求 】 : 3.1!  一般规》。定 —。 , 3.1.1~】3.1.3  随着!科,学技术的发》展电子?产品:生产日新月异以微】电子产?品为代表的各—种电子产品》生产技术发展迅速现!代,电子产品《要,求微型化、精密化、!高,纯度、高质量和高可!靠性以人们》熟悉:的手机、笔记本电脑!为例它所使》用的:集成电路、》电子元器件以及其组!装的生产《过程都?要求:在受控环境》条件下进行》。操作其中以集成【电路生产过》程对受控环境—。的要求尤《为严格当今》线宽为45n—m的超大规模集【成电路?产品已投入》生产其受控生产【环,境洁净室(区)【的受控粒子》尺寸要求《小于0.02—μm甚至更小表1】是超大规模集成【电路的?发展及相应控制【粒子的粒径集—成电路产品》的生产?和,研究表明超》大规模集成》电路生产《所,。需受控环境不仅严格!。控制微?粒而且还需严格控】制生产环境的—化学污染物和直【接与产?品生产过《程接触?的各种介质高—纯水、?高纯气体、》化,学,品的纯度和杂质【含,量表2是《超大规模集》成电路对化学污染物!的控制指《标表3是大规模【集成电路的》工艺发展《 : 【 ? : , 从表》1~表3中》所列数据可见动态随!机,存储器(《Dynami—c R?ando《m Ac《ce:。ss memo【r,y,简称DRA》M,)产品的线宽从0.!25:pm发展《到0.?05 μm要—。。。求洁净室《(区)生产环境【控制:粒子直径《从0.12》5,μ,m严格?到0.0《25:μm空气洁净度等级!从5级到6级严【格到1级或更—严;:。生产过程《使用的高纯气、【高纯:水中的杂质含量【从1:0-6严格》到1:0-1?1等集成电路—生产实践表明芯片生!产过程?使用:的工具、《器具和物料储运装】置也可能成为微粒、!化学污染物》的携带者或》污染源所以》对其制作材质和清洁!方式或保护方法【应根据产品生产【工艺要?求采取相应的技术措!施为此在本规范中作!出第3?。.1~1~3.【1.3?条的一般规定 】