3》 电子产品生产】。环境设计要》求
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3】.1 一般规【定
!3.1.《1~3.1.—3 随着科学技】术的:发展电子《产品:生产日新月异—以微电?。子产品为代》表的:各种电子《产品生产技》术发展迅《速现代电子》产品:要求微型化、精【密,。。化、高纯度、高【质量和?高可靠性以人们【熟悉的手机、笔记】本电脑为例它所【使用的集成》电路、电子元器件】以及其组装的生【。产过程都《要求在?受,控环境条件下进行操!作其中以《集成电路生产过【程对受控环境—的,要求尤为严》格当今线宽为45】nm的超大规—模集成电《路,产品已?。投,入生产其受控生产环!境,。洁净室?(区)的受控粒子】尺寸要求小于0.】02:μm甚至更小表【1是超大规模—集,。成电路的发展及相】。应控制粒子》的粒径集成电路产品!的生产?和研究表明超大规模!集成电?路生产所需受—控,环,境不仅严《格,控制微粒而且还【需严格控制生产环境!。的化:学污染?物和直?接与产品生》产过程接触》。的各种介质高纯【水、高纯气体—、化学品的纯度【和杂质?含量表2是超大【规模集?成电:路对化学污染—物,的控制指《标表:3是:大规模集成电—路的工艺发展
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从表】1~表?3中所列数》据可见动态随机存】储器(Dyn—amic Ran】。dom 《。Acc?ess 《memory简【称DRAM》)产品的线宽从0】.25?。pm发展到0—。。.05? μm要求洁净【室(区)生产—环境控制粒》子直径从0》.,。125μm严格到0!.025μm空【气洁:净度等级从5级到】。。6级严格到1级或更!严;:生产过程使》。。用的高纯气、—高纯水?中的杂质含量从10!-6严格到1—0-1?1等集?成电路生《产实践表明芯片生产!过程使用的》。工具:。、器:具和物料储运—装置也可能成—为微粒、化学污染】物的携带者或污染】源,所以:对其制作材质和【清洁方式或保护方法!应根据产品生产【工艺要求采取—相应的技术措施为此!在本规?范中:作,出第3?.1~?1~3.1.3【条的一?般规定?
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