安全验证
? 3:  电子产品生产】环境设计要求 ! 3.!1,  一般《规定 【 : 3.1.1~3.!1.3?  随着科学技术的!发展电子产品生产】日新月异《以微电子产品—为代表的各种电子】产品生?产技术发展》迅速现代电》子产品要求微—型化、精密化、高】纯度、高质量和高】可靠性?以,人们熟悉的》手机、笔《。记本电脑为》例,。它所使用的》。集成电路、电子元器!件以及其组》装,的生产过程都要求在!受控环境条件下进行!操作:其中以集成电路生】产过程对受控环境的!要求尤?为,严格当?今线宽为《45nm的超大规】模集成电路产—品已投入生产其受】。控生产环境洁净室(!区)的受控粒子【尺寸要求小于—0,.,。02:μm甚至《更小表1是超大规】模集成电路的发【展及相应《控制粒子的》粒,径集成电路产品的】生产和研究表—明超:大规模?集成:电路生产所需受控环!境不仅?严格控?制微粒而且还—需严格控制生产环】。境的化学污染物【和直接与产品—生产:过程接触的各—种介质高《纯水、高纯气体、化!学品的?纯度和杂质含量表】2是超大规》模集成电路对化学污!染物的控制指—标表3?是大规?模集成电《路的工艺发展 】 】 : 从【。表1:~表3中所列数据】可见动?态随机存储器(D】ynami》c Ran》d,。om Ac》cess me【mory简》称DRAM)产【品的:线宽从0.25p】m发展到0.—05 μ《m要求洁净》室(区)生产环【境控制粒子》。直径从0.125μ!m严格到《0.025μ—。m,空气:洁净:度等级从5级到6】级严格到1级或更严!;生产过《程,。使用的高纯气—、高纯水中的—杂质含量从1—0-:6严格到《10-11等集成】电路生产实践表【明,芯片:生产过程使用的工】具、器具和物料【。。储,运装置?也可能成为》微粒、化学污染【。物的携?。带者或污染源—所以对其制作—材,质和清洁方式或保】护,方法:应根据产品生—产工艺?要求:采取相?应,的,技术措施为》此在本规《范,中作出第3.—1,~1~3《.1.3条的一般规!定 ?