安全验证
: 3?  :电子产品生产环【。境设计要求 】 — 3.?。1  一般规定 】 : 3—.1.?。1~3.1.3  !随着科学技术—的发展电《子产品生产日新月异!以,微电子产《品为代表的各—种电子产品生—产技术发展》。迅速现代电子—产品要求《微型化、精密化【、高纯度、高—质量和高可靠—性以人们《熟悉:的手:机、笔记本电脑为】例它所使用的集成】电路、电子元器件】以及其组装的生产过!程都要求《在受控环境》条件下进行》操,作其:中以集?成电路生产过—程对受控环境的要求!尤为严格当今—线宽为4《5n:m的超大规模集【成电路产品已投【入,生产:其受控生《。产环境洁净室—(区)的受控粒子】尺寸要求小于—0.02μm甚至】更,。小表1是超大—规,模集成电路的发展及!相应控制粒子的【粒径集成电路—产品的生产》和研究表明超大规模!集成电路生产所【需受控环境》不,仅严格控制微粒而且!还,需严格控制生产环境!的化学污《染物和直接与产品生!产,过程接?。触的各种介》质高纯水《、高:纯气:。体、化学品的纯度和!杂质含量《表,2是超大规模集【成电:路,对化学污染物的控制!指标:表,3是大?规模集成《电路的工艺发展 】。 ? — 从!表1~表《3中所列数据—可见动态随机存【储器(Dyna【mic R》andom Ac】。ces?。。s mem》ory简称》DRAM)》产品:的线宽从0.2【5pm发展到0.】05 ?。。μm:要求洁净《室(区)生产环【境控制粒子直径【从0.12》5μm严格》到0.025μm空!气洁净度等级从【5级到6级严格【到1级或《更严;生产》过程使用的高纯气、!高纯水中的杂质含】量从10-6—。严,格到10-11【等集成电《路生产实《践表明芯《。片生产过《程使用的工具、器】具和物料储运装【置也:可能成为微粒—、化学污《染物的携带者—或污染源所以对其制!作材质和清洁—方式或保护方—法应根据产》品生产工艺要求采取!相应:的技术措《施为此在本》规范中作出第3【.1~1~3.1.!3条:的一:般规定 》