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5.7— 分?析检测
【
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5.7.1 】 ,。多晶硅工厂应设【置单独的分析检测室!并宜在四氯化硅氢】。化、还原《尾气干法回收、三】废处理站等装置区内!设置在线分析装置
!
5—。.7.2 —分析检测室》不应与甲、乙—类房:间布置在同》一防火分区》内可独立《设,置于一侧
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?5.7.《。3 分析》检测应包括下—列内容
》
— 1 氯—硅,烷的含量、杂质【。、含碳化合物分【析;
】 2 —。 硅粉的含量、【杂质、粒度、碳含】量分析;
【
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: 3 —液氩:中氧、氮含量分【析;
【
, 4 — 液氮中氧》含量的分析氮气中】氢含量、氧含量和露!点,分析;
】
? , ,5 氢气中氧【含量、氮含》量、氯硅烷含—量、露?点,分析;
》
【 ,6 水中氯离【子,(Cl-)、—氟离:子(F-)、化学】含氧量(COD)】、生化需氧》量(BO《D)、酸碱度—(pH值)、硬【度,、全碱度、悬浮物、!。总,磷、正磷分析;【
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?。。 7 【大气中氯化氢—。、氟化物、氮氧化】物分析;
【
— 8 多晶硅【质量指标分析指标分!析包括多晶》硅,的导电类《型、电阻率》、少子寿命、氧【含量、碳《含量、表《面金属杂《质含量、体》金,属杂质含量的分析】;
【 9 — 合成?原料氯化氢》的纯度分《。析,;,。
》
10 】 液:氯中三氯化氮、水含!量,分析
》
5.7.4 ! 分析检《测室中除化学—分析外?其他分析检测室应】设置在洁净区—。
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