6  工】艺设：计 】 6.0.》。1  电《磁波暗？室，的，工艺：区划应满足暗室体型！尺寸：、暗室与功》能，性房间之间的相对】。。位，置要求 【 6.《0.2 《 暗室应与测控【间、设备间》、试验间等相邻 】 ， 6》.0.3《 ， 暗室开门位置不】宜在：主反射区《 6.0！.4  暗室布局】宜自建筑的底层【开始 】6.0.5 — 暗室体《型宜选？。择内壁对电》磁波反射路径既少又！弱、试验操作—安全：可靠、？结构简单的体—型 《 6《.0：.，6  暗室内有两套！。或，。以上：功能测试《系，统时其体型和尺【。寸除应？满足各测《试系统的测量技术要！求，外还：应满足系统间相互】耦合的隔离要求【。 ？ 6.0.【7 ： ，长方体暗室》尺寸应符合下—。列，规定 》     【1  内《壁，长，度L应按下式—。计算：。 L≥L！1＋：L2＋？L3＋L4   】     》（6.？0.7-1） 【     ！式中L1《。测量距离（》m）按表6.—0.7计算； 【 ？  ？     》    L2—。暗室内测量系统【。。设备和？受试设？。备在测试中沿暗室测！量纵轴方向所占【据的最大尺寸—之和（m）；— 》        】   L3为—满足运输《、维护及电磁辐【射，性能要？求沿测量纵》轴方向增《加，的长度； 】   《    《 ， ，  L4暗室—两端墙壁吸》波材料沿测》量纵轴方向的高【度和（m《）， 》 表6.《0.7  L—1计算？ ，。 》  】  ： 2  内壁宽度W！应按下式计算 【 W—＝，W1＋？W2＋W3》   ？ ，     （6.】0.7-2）—。  【 ，  式中W》内壁：宽度：（m）不宜小—于0.87L1；】 ：    【    《   ？。W1：暗室内测量》。系统设备《。和，受试设备在》测，试中沿暗室宽度方】向所占据的最大【尺，寸（：。m）； 】  ：       【  W2满》足运：输、维护《和辐射特性需—要，沿暗室？宽度方？向的空？间尺寸（m）； ！ ？。     》 ，  ： ，  W3暗室两【侧墙壁吸波》材料高度的总和【（m）？ —   ？ ，3 ：。 内：壁高度H应》按，。下式计算并应满足辐！射特：性要：求 《 ？H，＝H1＋H2—＋H3 《。      —  （6.0.7】-3） 】 ，    式中—H内壁高《度（m）对于1【。-1、2-1、2-！2、3-2类暗室不！宜小于0.8—7L1； 》 ？     —  ：    《H1测量系》统设备或《受试设备《。的最大高《度（m？）； — ：  ：    《    H2—设，备上部安装》空间：。尺寸（m）》； 【       【   H3暗室顶】部吸波材料高度（】m） 《 《6.0.8 — 锥体暗室尺—寸设计应符》合下列规定 ！  ？   1 》 暗室静区》尺寸不应小》于待测天线》尺寸 —     2  ！。暗室长方体部分【宽度和高度应相【等不：应小于暗《室静区尺寸的—3倍： ：   —  3  暗室长方！体部：分长度不应小于暗】室宽度和主》墙吸波材《料高度的和 【     4！。  锥顶角可选取】20°～22—° 【    《5  根据本条第1！款，～第4款设计的【锥形暗室测量距【离L1应《满足本规《。。范表6.0.—7的远场条件 【    】。 6：  6GH》z及以上《频段：的锥：形暗：室，应符合自由空—间电波传播》幅度与相位的均【匀性要求 》 《 6.0.9  】正多边柱体暗室尺寸！应符合下《列规定 》   —  1 《 内壁内切圆—半径R应按下式计算！ R≥】L1＋R2》。＋R3＋R4—      （6.！0.9-《1）  ！ ，  ：式中：L1测量距离按本规！范表：6.0？.7计算对于1【-1、？2-1、3-2类】远场：测量暗室当天—线口面内电磁波【相位偏差要》求小于或《等，于λ/8时K值取】2，对于2-2》类暗：室K值可小于2； ！ 《。    《    《 ，。  R2测量系统设！备，与受试设备沿半【径方向的长》度之和； 】 ：        】  R？。3满足运《输、维？护和辐射特性需【要在：。。半径方向的空—间尺寸； 》 ？        ！   R4吸波【。材料的总《高度 【     2—  高度应按本规】。范式（6.0.【7-3）计》算 《 ， 6.0.1【0  雷达截面紧】缩场微波暗室（3】-，1类暗室《）尺寸应与要—求的静区尺寸—、测量？系统布局《、操作？维护空间相协调匹配！ ： 《6.0.11 【 除本规《范表4.《0.1？中，1-2、1-3、】2-2、3-1、】3-2、《4，-1类暗室》测量系统《。在高度方《向布局另《。有要求外其他暗【室内部测量系统【应对称布局》 ？ 6.0.1】2  暗室静区范】围尺寸应大于—受试设备试》验状态中所覆盖的区！域，  ？