6  【工艺设计 ！ 6.0.1】  电磁波暗—室的：工艺区？划应满足暗室体型尺！寸、暗室与功能性房！间之间的《相对位置要求 ！ 6.0.【2  ？暗室：应，与测控？间、设备间》、试验？间等相邻 ！ 6.0.3  暗！。。室开门位《。置不宜在主反射区 ！ ？ 6.0》.4  暗室布【局宜自建筑的—底层开始《 6.】0.5？  暗室体型宜选择！内壁对电《磁波反射路径既少又！弱、试验操作安全】可靠、结构简—单的体型《 6.0！.6  暗室内有】两套或以《上功能测试系统时其！体型：和尺寸？除应满足各测试系】统的测量技》术要求外还应满【足系统间相互—耦合的？隔离要求 — 6.0.】7  长方》体暗室尺寸应—。符合下列规》定 《 ：     1  内！壁长度L应按下式】计算： L【≥L1＋L》2＋L？3＋L4 》     》  （6.0—.7-1） 【     式！中L：1测量？距离（m）按—表，6.0？。.7计算《；，   】 ，  ：    《 L2暗室内—测量系统设备和受】试设备？在测试中沿暗室测量！纵轴方向所》占据的？最大尺寸之和—（m）； ！         ！  L3为》满足运输、维—护及电磁辐射性【能要求沿测》量纵轴方向增加【的，长度； 】      —     L—4暗室两端墙壁吸】波，材料沿测量纵轴【方向的高度和（m】） 《。 表6.0.7！  L1计算—  ： 》 》    《 2  内壁—。宽度W应按下式【计算 ？ W—＝W1＋W2＋W】3 ：   ？     （6.0！.7：。-2） 】     式中W内！壁宽度（m）不【宜小于0.8—7L1； ！     》      —W1暗室内测量系统！设备和受试》设备在测试》中，沿暗室？。宽度方向所占据【的最大尺寸（m【）； 《 ：        ！   W2满足运输！、，维，护和辐？射特性需《要沿暗室宽度方向的！空间尺寸（》。m，。）；： —  ：       【 W3暗室》两，侧墙壁吸波材料高度！的总和（m） 】   —  3 《。。 内壁高度》H应按下式》。计算并应满足辐射】特性要求《 H【＝H1＋H2—＋H3   —      （6】.0.7《-3） ！    《。。式中H内壁高度（】m）对于《1-1、2》-1、2-2、3】。-2类暗室不宜小于！0.8？7L1； 》  —        】 H1？测量系统《设备或受试设备【的最大高度（m）】； 【         ！ H2设备上部【安装空间尺寸（m】）；  ！        】 H3暗室》顶部吸波材》料高度？（m） 》 《6.0.8  锥】体暗室？尺寸设计应》符，合下列规定 】     【1  暗室静区尺】寸不应小于待—测天线尺寸》 ： 《   ？ 2  暗室长方】体部分？。宽度和高度应—相等不应小于暗室静！区尺寸的3倍 ！ ，    》。。 3  暗室长方】体部分长度不应小】于暗室宽度和主墙】吸波材料高度—的，和 》 ：    4》  锥？顶，角可选取20°～2！2° ？ ：   》  5  根据本】条第1？款～第4款设计【的，锥形暗室《测量距离L1应【满足：本规范表6》.0.？7的远场条件—    ！ 6  《6GHz及以上频】段，的锥形暗室》应符合自由空—间，电波传播幅度与相位！的均匀性《要求 【 6.0.》9  正多边—柱体：暗室：尺寸应符合下—列规：定 《     1 ！ 内壁内切圆半径R！应按：下式计？算 《 ， R≥《L1＋R2＋R3】＋R4  》 ，   （6.0.9！。-1：）  】  ： 式中L1》测量：距离按本规范表【6.0.7计—算对于1-1—。、2-1、3-2类！远场测量暗室当【。天线口面内电磁波相！位偏差要求小于或等！于λ/8《。时K：值，取2对于2》-2类暗室》K，值可：小于：2； 》 ， ：    《  ：   ？ R2？测量系统设备与受试！设备沿半《径方：向的长度之和； 】 ，      ！   ？。。  R3满》足运输、维护和辐射！特性需要在半—径方向？。的空：间尺：寸； ？ 》      —    《R4吸波材》料的总高《度 —   ？  2  高度应】。按本规范式》（6.0.7—-3）？计算 6！.0.？10 ？ 雷：达截面紧缩场微【波暗室（3-1类暗！室）：尺寸应与要求的【。静区尺寸、测量系】统布局、《操作维护空间相【协，。调匹配 ！6.0.11—  除本规》范表4.0.1中】1-：2、1？-3、2-2、3-！1、3-2、4-1！类暗室测量系统在】高度方向布局—另有要求外其他暗室！内部测量系统应【对称布局《 6.】0.12  暗室】静区范围尺寸应大于！。受试设？备试验状态中—所覆盖的区域 【 ， ，