： 6  工艺【设计： ？ 6.0.！1  电《磁波：。暗室：的工艺区划应满足】暗室体型尺》寸、暗室《与功能性房间之间的！相对位？置要求 — 6.0.2 ！ 暗室应《与测控间、设备【间、试验间等相邻】。 6.】0，.3  暗》室开门位《置不宜在主反—射区 【。 6.0.4 【 暗室布局宜自建筑！的底层开始 ！ 6.0.5  ！暗室体型宜选择【内壁对？电磁波反射路径【既少又弱《、，试验操作安全可靠】、，结构简？单，的体型 】 6.？0，.，6  暗室内—有两套或以上功能测！试系统时其体型和尺！寸除：应满足各测试系【。统的测？。量技术要求外还【应满足系《统间相？互，耦，合的隔离要求 】 6.0【.7：  长方《体暗室尺寸》应，符合：下列规定 】     1【。  ：内壁长度L应按下式！计算 《。 ： L？≥L1＋L2—＋，L3＋L《。4  ？      （【6.0.7-—1） 【     式中L】1测量距离（m）按！表6.0.7计算】； —         ！  L2暗室内测量！系统设备和受试设】备在测？试中沿？暗室测量纵轴方向所！。占据的最《大，尺寸之和（m）【； ？ ：       】   ？ L3为满足运输、！维护及电磁辐射性能！要求沿测量纵轴【方向增？加的：长度； ！ ，      — ，  L？4暗室两端墙壁吸波！材，料沿测量纵轴方向】的，高，度和（m《） — 表6.0》.7：  L1计算—  ！    【 2：  内壁宽度W应】按下式计算》 《。 W＝W1＋W】2，＋W3      ！   （6.0【.，7，。-2） 【     式【。中W内壁《宽度（m）不—宜小于0.87L1！； 》 ：        】  W1暗》室内测量《系统：设，备和受试设备在测试！中沿暗？室宽度方向所占【。据的最大尺寸（m】）；  ！ ，   ？ ，    W2—满足运输、维护和】辐射特性需要沿【暗室宽度方向的空】间尺寸（m）； ！ ：    》  ：     》W3暗室两侧墙【壁吸波材料高度的总！和（m） 】  ？   ？3  内《壁，高度H应按下式计】算并应？满，足辐射特性要求【 H＝H！1＋H2＋H—3   《   ？   ？。（6.0.》7-3）《   】  式中H内壁高度！（m：。）对于1-1、【2-1、2-—。2，、3-2类暗室【不宜小于0.87】L1； ！  ：       【 H1测量系—统设备或受试设备的！最大高度（m—）；： ？   》        H！2设：备上部安装空间尺】寸（m）； ！     —      H3暗！室顶部吸波材—料，。高度（？m） ？ 《 6.0.8  】锥体暗室尺寸设【。计应符？合下列规定 — 》    1  暗】室，静区尺寸不应—小于待？测天：线尺寸？    ！ 2 ？ 暗室长方体部分宽！度和高度应相等不应！小于暗？室静区尺寸的3【倍  】。。   3 》 暗室长方体—部，分长度不应小于暗室！宽度和主墙吸波材料！高度的和 》。。 《。     4  】锥顶角可《选取20《。°～22°》 —  ：  5？ ， 根据本《条，第1款～第4款设】计的锥形暗》。室测量距离》。L1：。应满足本规范—表6.0.7的远】场条件？ 》   ？  6 《 6G？。Hz及以上频段的锥！形暗室？应符合自由空—间电波传播幅度与相！位的均匀性要求 】。 ： ？6.0.《9  正多边柱体暗！室尺寸应符》合下：列规定？ ？。 ？    1 — 内壁内切圆—半径R应按下式计】算 —。。 R≥L《1＋R2＋R3＋R！4 ：。    《 （6.0》.9-1） — ：。。     【式中L1《测量距离按本规【范表6.0.7计算！对于1-1、—2，-1、3-》2，类远场测量暗—室当：天线口面内》电磁波相位》偏差要求《小于或等于λ/8时！K值取2对于2【-2：类暗室K值可小于】2；  ！        】 R2测量系—统设备与受》试设备沿半径方【。向的长度之和； 】     ！      R【3满足运输、维【护和辐射特性需要】在半径方向》的空间尺寸；— —  ：        R！4吸波材料》的总高度 》    】 2  高度—应，按本规范式（—6.0.7》。-3）计算 【 6.0.1！0  雷达截面【紧缩场微波》暗室（3-1类暗室！）尺寸应与》要求：的静：区，尺寸、测量系统【布局、操作维护【空间相？协调匹配《 《 6.0.11 ！ 除本？规范表4.0.1】中1-2、1-3、！2-2、3-1、3！-2、？4-1类暗室测【量系统在高度—。方向布局另》有要求？外其他暗室内—部测量系统应对称】布局 《 6.0.】12  暗室—静区范围尺寸应【大于：受试：设备试验状态—中所覆盖的区域 】 ：