6  工艺！设计 》 6.0.！1  ？电磁波暗室的工【艺区划应满足暗室体！型尺寸、《暗室与功能性房【间之间的相对位置要！求 6】.0.2  暗室】应，与测控？间、设备间》、试验间等相邻 】 6—.0.3  暗室】开门位置不宜在主】反射区 ！6.0.4  暗室！布局宜自建》筑的底层开始—。 ？ 6.》0.5  》暗，室体型宜选择内壁对！电磁波反《射，路径：既少又弱、试验【操作安全可靠—、结：构简单的体》型 【6，.0.6  —暗室内有两套或以上！功能测试系统时其体！型和：尺寸除？应满足各测试系【统，的测量技术要求外】还应满？足系统间《相，。互耦合的《隔，离要求 ！。6.0.7  长】。方体：暗室尺寸应》符合下列规》定 【  ：  1  内壁【长度L应按》下式：计算 【 L≥L1＋—。L2＋L3》＋，L4       ！ ，（6.0.》7，-1） 】。     式—中L：1测量距离（m）按！表6.0.7计算】； 》 ：。。        】  L2暗室内测量！系统设备和受试设备！在测：试中沿暗室测量【纵轴方向所占据的】最，大尺：寸之：和（m）；》    ！      — L：3为满足运输—。、维护及电磁辐射性！能要求沿《测量纵轴方向增【加的长度； 】 ？ ，        】 L4暗室两端墙壁！。。。吸，波材料沿测量纵【轴方向？的高度和（m—。） 》 ， 表6.0.7【  L1计算—  ： 】 ？   ？ 2  内壁—宽度W应按下式计算！ W【＝W1＋W2＋W3！。  ：  ：     （6.】0.7-2） ！ ，     式中W！内壁宽度《（m）不宜小于【0.87《L1； 【        ！。。   W1暗室内】测量：系统设备和受试【设备在测试中沿【暗室宽度《方向所占据的最大尺！寸（m）； — 》   ？     》  W2《满足运输、维护和辐！射特性需要沿暗【。。室宽度？方，向的空？间尺寸（《m）； ！         ！ W3暗室两侧墙】壁吸波材料高度的】总和：（，m） 》 ？ ，  ： ，3  内《壁高度H应按下式】计算并应满足—辐射：特性要求 ！ ，H＝H1＋H—2＋H3     ！    （》6.0.7-3）】 ： 《    式中H内】壁高度（m）—对于1？-1、2-1、2-！2、3-《2类暗室不宜小于】0.87《L1； 《 ： ？    《。 ，。    《 H1测量》系统设备或》受试设备的最大高】度（m）；》 《 ：  ：。      —  H？2设备上部》安，装空间尺寸（m）；！  【  ：       H】3暗室顶部》吸波材料高度—（m） 《。 ， 6.0.】8， ， 锥体暗《室尺寸设计应符【合下列规定 】     1】。  暗？室静区尺寸》不，应小于待测天线尺寸！ —。   ？ 2  暗室长【方体：部分宽度和高度应】相等：不应小于暗》室静区尺寸的—3倍 —     —3  暗室长方体部！分长度不应小于【暗室宽度和》主墙吸波材料—。高度的和 》    】 4  《锥顶角可选取—。20°？～22° — 《    5 —。 根据本条第1【款～第4《款设计？。的锥形？暗室测量距离L【1应满？足本：规范：表6.0.7—的远场条件 ！ ，   ？  6  6GH】z及：以上频段《的锥形暗室》应，符合自由空》间电：波传播幅度与相【位，的均：匀性要求 】 6.0》.9  《正，多边柱体《暗室尺寸应符合下】列规定？ 《     1  ！。内壁：。内切圆半径R应【按，下式计算 — ？ R≥L1＋R2】＋R3＋R》4   《  ： （6.0.9-1！。） ？  》   式中》L1测量《距离按本规范—表6.0.7计算】对于1-《1、2-1、3-】2类远？场测：量暗室当天》线口：面内电磁波》相位偏差《要求小于或等于λ】/8时K值取—2对于2-2类暗】室K值？可小于2； 】 ：         ！。 ， R2测量系统【设备与受《试设：备沿半径方向的长】度之和； 】     —      R【3满：足运输、维护和辐射！特性：需要在半径方向【的空：间尺寸； 】    》。  ：     》R4吸波材料的总高！。度 【    2  高度！应按本规范》式（6.0》.7-3）计—算， 《 ：6.0.10— ， 雷达？截面紧缩场微—。波暗室？（3-1《类暗室）尺寸应与】要求的静区尺寸、测！量系统？布局、操作维护空间！相协调匹配 — ： 6.0—.11  除本规范！表4.0.1—中1-2、1-3、！2-2、3-1【、3：。。-2、4-1类暗】室，测量系？统在：高度方向布局另有要！求外其？他，暗室：内部测量系统应对称！布局 》 6.0.【12 ？ 暗室？。静，区范围尺寸》应大于受试设—备试验状态中—所覆盖的区域  ！