6 【工艺设计
!
6.0.1】 电磁波暗—室的:工艺区?划应满足暗室体型尺!寸、暗室与功能性房!间之间的《相对位置要求
!
6.0.【2 ?暗室:应,与测控?间、设备间》、试验?间等相邻
!
6.0.3 暗!。。室开门位《。置不宜在主反射区
!
?
6.0》.4 暗室布【局宜自建筑的—底层开始《
6.】0.5? 暗室体型宜选择!内壁对电《磁波反射路径既少又!弱、试验操作安全】可靠、结构简—单的体型《
6.0!.6 暗室内有】两套或以《上功能测试系统时其!体型:和尺寸?除应满足各测试系】统的测量技》术要求外还应满【足系统间相互—耦合的?隔离要求
—
6.0.】7 长方》体暗室尺寸应—。符合下列规》定
《
:
1 内!壁长度L应按下式】计算:
L【≥L1+L》2+L?3+L4 》 》 (6.0—.7-1)
【
式!中L:1测量?距离(m)按—表,6.0?。.7计算《;,
】 , : 《 L2暗室内—测量系统设备和受】试设备?在测试中沿暗室测量!纵轴方向所》占据的?最大尺寸之和—(m);
!
! L3为》满足运输、维—护及电磁辐射性【能要求沿测》量纵轴方向增加【的,长度;
】
— L—4暗室两端墙壁吸】波,材料沿测量纵轴【方向的高度和(m】)
《。
表6.0.7! L1计算—
:
》
》
《 2 内壁—。宽度W应按下式【计算
?
W—=W1+W2+W】3 : ? (6.0!.7:。-2)
】
式中W内!壁宽度(m)不【宜小于0.8—7L1;
!
》 —W1暗室内测量系统!设备和受试》设备在测试》中,沿暗室?。宽度方向所占据【的最大尺寸(m【);
《
:
! W2满足运输!、,维,护和辐?射特性需《要沿暗室宽度方向的!空间尺寸(》。m,。);:
— : 【 W3暗室》两,侧墙壁吸波材料高度!的总和(m)
】
— 3 《。。 内壁高度》H应按下式》。计算并应满足辐射】特性要求《
H【=H1+H2—+H3 — (6】.0.7《-3)
! 《。。式中H内壁高度(】m)对于《1-1、2》-1、2-2、3】。-2类暗室不宜小于!0.8?7L1;
》
— 】 H1?测量系统《设备或受试设备【的最大高度(m)】;
【 ! H2设备上部【安装空间尺寸(m】);
! 】 H3暗室》顶部吸波材》料高度?(m)
》
《6.0.8 锥】体暗室?尺寸设计应》符,合下列规定
】
【1 暗室静区尺】寸不应小于待—测天线尺寸》
:
《 ? 2 暗室长方】体部分?。宽度和高度应—相等不应小于暗室静!区尺寸的3倍
!
,
》。。 3 暗室长方】体部分长度不应小】于暗室宽度和主墙】吸波材料高度—的,和
》
: 4》 锥?顶,角可选取20°~2!2°
?
:
》 5 根据本】条第1?款~第4款设计【的,锥形暗室《测量距离L1应【满足:本规范表6》.0.?7的远场条件—
! 6 《6GHz及以上频】段,的锥形暗室》应符合自由空—间,电波传播幅度与相位!的均匀性《要求
【
6.0.》9 正多边—柱体:暗室:尺寸应符合下—列规:定
《
1 ! 内壁内切圆半径R!应按:下式计?算
《
,
R≥《L1+R2+R3】+R4 》 , (6.0.9!。-1:)
】 : 式中L1》测量:距离按本规范表【6.0.7计—算对于1-1—。、2-1、3-2类!远场测量暗室当【。天线口面内电磁波相!位偏差要求小于或等!于λ/8《。时K:值,取2对于2》-2类暗室》K,值可:小于:2;
》
,
: 《 : ? R2?测量系统设备与受试!设备沿半《径方:向的长度之和;
】
,
! ?。。 R3满》足运输、维护和辐射!特性需要在半—径方向?。的空:间尺:寸;
?
》 — 《R4吸波材》料的总高《度
—
? 2 高度应】。按本规范式》(6.0.7—-3)?计算
6!.0.?10 ? 雷:达截面紧缩场微【波暗室(3-1类暗!室):尺寸应与要求的【。静区尺寸、测量系】统布局、《操作维护空间相【协,。调匹配
!6.0.11— 除本规》范表4.0.1中】1-:2、1?-3、2-2、3-!1、3-2、4-1!类暗室测量系统在】高度方向布局—另有要求外其他暗室!内部测量系统应【对称布局《
6.】0.12 暗室】静区范围尺寸应大于!。受试设?备试验状态中—所覆盖的区域 【
,
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