安全验证
。 6  工艺!设计: 》 6.0.【1  电磁》波,暗室的工艺区划【。应满足暗室体型【尺寸、暗室与—功能:性房间之《间的相对位置要求】。 : : 6.0》.2 ?。 暗室应与测控间、!设备间、试验间【等相邻 》。 6.0.】3  暗《室,开门位置不宜在【主反射区《 ? 6《.0.4《  暗室布局宜【自建筑的《底层开始 ! 6.?0.:5  暗室》体,型宜选?择内壁对电磁—波,反,射路径既少又弱、试!验操作安全可靠、】结构简单的体型 】 》6.0.6 — 暗室?内有两套或》。以上功能《测试系统时其—体型和尺寸除应满】足各:测试:系统的?测量:技术要求外还应【满足:系统间?相互耦?合的隔?离要求 【 6?.0:.7  长》方体暗室尺寸应符合!下列规定 !     1—  内壁长度L应按!下式计算 【 L《≥L1+L2+L3!+L4 《       (】6.0.7-—1) — ,。     式中L1!测量距离《(m)按《表6.0.7计算】; :。   【        L!2暗:室内测量系统设【。。备和受试设备在测】试中沿暗室测量纵轴!方向所占据的最大尺!寸之和?(m); 【  《     》    L3—为满足?运输、维护》及电磁辐射性能【要求沿测量纵—轴方向增加的—长度;?    !      — L4?暗室两?端墙壁吸波材—料沿测量纵轴方【。向的高度和(—m): 表6】.0.7  L1】计算  《 《 ? 《    2》  内壁宽度W【应,按下式计算 — W=W】1+W2+W3 】    《。 , ,  :。(6.0.》7-2) — 《    式中W【内壁宽度(m)不】宜小:于0.87L1; !。 ,  》        】 ,W1:暗室内测量系统设备!和,受试设备在测—试,中沿暗室《宽度:方向所占据的最大尺!寸(:m):; 【       【   W2》满足运输、维护和辐!射特性需要沿暗【室宽度方向》的空间尺《寸(m); — : :   ?       【 W3暗室》两侧墙壁吸波材料高!度的总和(m) 】 ,     3!  :内壁高度H》应按下?式计算?。并应满足辐射特性要!。求 《 H=H1+H!2+H3  —       (】6.0.7-3)】 —    式中H内】壁高:度(m)对于1【-1、?2-1、2-2、3!-2类暗室不—宜,小于0.87L1;! 》   ?     》   H《1测:量系统设备》或受试设备的最【大高度(m》); 《 ,      】     H2设备!上部安装空》。间尺寸(《m); !         ! H3暗室顶—部吸波材料高度(】m) 《 《6.0.8  锥】体暗室尺寸设计应符!合下列规定 —   【  1  暗—室静区尺《寸,不应小于待测天线尺!寸 :。 ,。。    【 ,2  暗室长方【体部分宽度和高度】应相等不应小于暗】室静区尺《寸的3?倍  】   3《  暗室《。长方体部分长度不】应,小于暗室宽度和【主墙吸波材料高度】的和 【   ?  4?  锥顶角可选取】20°~22—° 《    — 5  《根据本条第1款~】第4款设计的—锥形暗室测量—距,离L1应满》足本规范表6—.0:.,7的远场条件—    ! 6  6》GHz?及以:上,。频段的锥形暗室应】符合自由《空,间电波传播幅—度与相?位的均匀《性要求 》 6.0.9!  正多《边柱体暗室尺—寸应符?合,下列规定 】     1【  内?壁内切?圆半径R应》。按下式计算 【 R≥L1+!R,2,+R:3+R4   【  : (:6.:0.9-《1)  !   式中L—1测量距《离按本规范表—6.0.7》计算对?于1-1《、2-1《、3-2类》远场测量暗室当天】线口面?内电磁波相位偏差要!求小:于或等于λ/8【时,K值取2《对于:2-2类《暗室K?值可小于《2; ? 》         ! R2?测量系统《设备:与受试设备沿半径方!向的长度之和—;, ? ? ,  : ,      R3满!足运输、维护和辐】射特:性需要在半径—方向的空间》尺寸; 》 :       】    R4吸波】材料的总高度 【  —   2  高【度应按本规范—式(6?。.0.7-3)计】算 》 6.0.10】  雷达截面紧缩】场微波暗室(3【-,1类暗?室)尺寸应与—。要,求的静?区尺寸?、测量系统布局【、操作?维,护空间相《协,调匹配 【。 6.0.1【1 : ,除本规范表》4.0.1中1-】2、1-3、2-】2、:3-1、《3-2、4-—1类:暗室测量系统—在高度方向布局【另有要求外其—他暗室内部》测量系统应对—称布:局 【6.0.1》2 : 暗室静《。区范围尺寸应—大于:受,试设备试验》状态:中,所覆盖的《区域  》