附录C【 发光二极管生产!的典型工艺流程【
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C?.2.1 采用】金属有机《化学气相沉积设【备,在衬底(《如Al2《O3:、G:aAs)上》做外延层《(GaNAl—GaI?nP)?和相:应的掺杂《层如p-Ga—N层、n《-GaN层、p-A!lxGay》。In1-《x-y?P层、n-AlxG!。ayIn《1-x-yP—层等按照特》定,程序生?长出符?合设计要求的外延层!(GaNGa—As:、Alx《GayIn1-【x-:y,P)
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C.2.】2 ?管,芯(芯片)生产工】艺流程包括光刻、刻!蚀、减薄、划片【、绷片、扩片、测】试、分拣等工艺【
! 光:刻通过一系列生【。产步骤在《晶圆表面部分区域】形成设计所需的【薄膜保护《层以便后续工序进行!选择性蚀刻》光刻工艺主》要包含匀胶、烘【干、曝光、显影【四个阶段
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①匀胶!在,清洗后的外延片上涂!覆一:层均匀的《光刻胶
!。 ②烘干在】一定条件下》烘,烤除去光刻》胶中的溶剂增强黏附!。性;:释放光刻胶膜内的】应力;防止光—刻胶玷?污,设,备
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③—曝光在?掩模版?的遮:蔽下对光刻胶进行】选,择性曝光使光刻胶发!生化学反应整个晶】面的光刻胶》薄膜:由起交联反应部【分与未起《交联反应部分组【成
! ④显《。影采用特定化学溶剂!去除起交联反—应部分?光刻胶或去除未起交!联反应部分光—。刻胶在晶圆表面【部分区域形成—设计所需的》薄膜保护《层
【 《刻蚀刻蚀技》术分:为,干法刻?蚀和湿法刻》。蚀,;刻蚀的目》的是将光刻后暴【露的保护层去—除使下?面的:基质层暴露出来
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: : ①干《法,刻蚀:。利用低压放电产【生的等离子体中【的离子或游离—基(处于激发态【的分子、原子及各】种原:。子基团等)》与材料发生化—学反应或通过轰【击等物理作用选【择性腐蚀《基材的过《程刻蚀气《氛通常?含有:F,、Cl?等离子体或碳等离子!体因此刻蚀气—体通常使用CF4】、Cl2、BCl】3这一?类的:气体
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!②湿法刻《蚀通过化学反应的】方法对基《材,腐蚀的?过,程根据不同的—工艺要求而选择【不同的刻蚀剂最【常用的是以氢—氟酸、盐《酸、硫酸、》硝酸:。等和纯水配成—的刻蚀液刻蚀完成后!要用酸、碱和纯水反!复冲洗以保证刻痕的!清洁
! 减薄、划片】、绷片、扩》片对于氮化镓(或砷!化镓)的衬底先将已!制,。作好:管芯的一面》用石:蜡粘合在陶瓷盖上】保护起来《在减薄?机上用?不同粒度大小的【金刚砂?对衬底进行》减薄将减薄后晶【片粘:在带黏性的》薄膜上?用激:光划片机划出或【用金刚石锯片机【切割出每一》个单独的管芯—将划片后的晶片【在绷片机上绷紧【用适当的力量和【刀具击打划痕—以,使基片在划痕处裂开!最后在?扩片机?上将黏?附衬:底的薄?膜伸张使管》芯与管芯之间分离】一定:。间,距并黏附在薄—膜上
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】测试:、分:。拣在分拣机上根据】不同的测试数据按】照一定的《分类规则对管芯进】行分类
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C《.2.3 —管芯(芯片)封【。装生产工艺流程【包括装?片、金?线键合、《固化、?切筋
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装片!。将发光二极管芯片安!装,。在相应的支架位置上!
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金线键合!。键合的目的是将电极!引到发光二极管芯片!上完成产《品,内外引线的》连接作?用
! 固?化对芯?片进行包封以产【生器件的光学和防护!特性
】 , ?切筋:由于发光二极管在生!产中是连在一起【的采用切筋工—艺,切断发光二极—管,支架的连《筋
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