安全验证
5.5  !半导体材料》制备 】。 5.《5.:1  本条对硅、锗!材料制备《的生产?废水处理作出—要求  !   1 》 采用改良》西门子工艺生—。产多晶硅的生产排水!包括废气淋洗水、硅!芯,。和硅片腐蚀产生的】污酸及?净化:酸雾:产生:的酸性废水以及【硅芯、硅片清洗【水等生?产排水主要含—氯离子、氟》离子可采用石灰中和!处理使污《染,物达标或《。处理:后回用于氯化—氢合成、三氯氢【硅合成、三氯氢【。硅提纯工序产—生的废气《淋洗或硅芯、硅片腐!蚀产生的《。酸雾净化 》   【  2  硅片加工!过程产生含碳化硅】、有机溶质的—浆料应回收其中的碳!化,。硅 —     》。3  锗精矿加【盐酸:氯化产出的》粗四:氯化锗蒸馏、复【蒸、精馏生产精四】氯化锗?过程产生的废水含】氯离子呈《酸,性四氯化锗水解产】出,二氧化锗的》同时产?生的水解《母,液也:呈,酸性生产《过程含盐《酸的废气《用水吸收的淋洗【液,同样呈酸性均—。应采用中和法处【理 》。     —4  单晶硅、【单晶锗?酸洗产生《的含氟化氢、氮氧】化物的废气通常采用!碱液淋洗《吸收处理《淋洗:液无论呈《酸性:还是呈碱性都应【中,。。和处理 !    5  【六价铬毒性大—因此本?款为强制性》条文:必须严格控制为【了检测单晶硅、单】晶锗产品的晶体有无!缺陷:等,质量问题需要—。。将晶体放在含铬溶】液中:浸泡因而产生含铬废!液铬(?总铬:及,六价铬)是第—一类污染物必须【单独收?集、还?原处理至总铬—浓度低于1.5m】g/L、六价铬浓度!低于0.5mg/L!后再送全厂污水处】理站进一步净化处】理 — 5:.5.?2  制备化—合物:半导体材料砷化镓的!原料高纯《砷的提纯《过程产生含砷废水合!成后的砷化镓用王】水清洗后废弃的王】水中含砷砷化镓合】成时砷?挥发:物冷凝在石英—管壁上?用王水清《洗石英?管壁的?废,液也含?砷废水?(液)含砷浓度较】高时应首先考虑在酸!性条件?下,以硫化砷《的形:式回收砷;含砷【浓度较低时应—首先:将三价砷转变为五】。价,砷再进一步》净化处理因为三价】状态的?砷(A?s3+)毒性20】倍于五价状态的砷(!As5+) 【