附录A  ！测，。试仪表？的校准及光纤链路衰！减测试方法 ！     】 测试仪《表，的校准及《光纤链路《衰减测试有三种常】用方：法三跳纤法》、双跳纤法和单【跳纤法本标准推荐】使用“三《跳纤法”可》选择使？用“双跳纤法—”但不建议使用“单！跳纤法”“单跳【纤法”？与“双跳纤法”相】比的区别在于被测】光纤插头是直接与】。仪，表，。接口：连接还是与校准适】配，器连接由于被测光】。纤插头直接》与仪表接口连—接容易对《仪表接口造》成污染和磨》损因此不《建议在现《场使用？“单跳纤《法，” 《     【 虽然本《标准不推荐采—用，“单跳纤法”进行测！试仪表的校准和光纤！链路的衰减测试但】还，是将“单跳纤法”】进，行说明并与“双【跳，纤法”进《行，对比以供鉴别 】    【  ：“，单跳：纤法”校准（—图2）时省去了【校准适配《器和一根跳》纤，如，。图3显示的是省去了！功率计一侧跳纤的】情，形如果去《掉光源一《侧跳纤只保留功率计！一侧跳纤则效—果是一样《的， — 》。。  ：。。。    测试时需】将校准跳纤的一端】插头从设《备接口上取下（例如！从光功率《计接口取下）—接入被测光纤的【连接：器，被测：光纤另一端》的插头直接接入【仪表：接口如图4、图5所！示 《 ！ ：