： 附录A》  测试仪表—的校准及光纤—链，路衰：减测试方法 】    】  测试仪表的【校准及光《纤链路衰《减测试有三种—常用方法三跳纤【法、双跳《纤法：和单跳纤法本—标，准推荐使用》“三跳纤《。。法”可？选，择使用“双跳纤法】”但不建议》使用“单跳纤法”“！单跳纤法”》与，。“双跳纤法”相比的！区别在于被测光【纤插头是直接—与仪：表接：口连接还是与校准适！配器连接由于被测光！纤插：。头直接与仪表—。接口连接《容易对仪表接—口造成污染》和磨损因《此不建议在》现，场使用“单跳纤法】” 》      【虽然本标准不—推荐采用“》单跳纤法”进行测试！仪表的校准和—光纤链路的衰减测】试但还是《将“单跳纤法”进】行说明并《与“双跳纤法”进】。行，对比以供鉴别— —     “单【跳纤法”校准（【图2）时省去—了校准适配器和一】根跳纤？如图3显示》的是省去了》功率：计一侧跳《纤，的情形如果去掉光】源一侧跳《纤只保留功》率计一？侧跳纤则效果是一】样的 — ： ？。。 ？    《 测试？时需将校准跳纤的】一端插头从设备接口！上取下（《例如从光功率计【。接口取下）》接入被？测光纤的连接器被测！光纤另一《端的插？头直接接入仪表接】口如图4、图5所示！ 】 —