， ，。 附录A — 测试？仪表的校准及光纤】链路：衰减：测，试方法 》。 ，    】。  测试仪表的校】准及：光纤链路衰减测试有！三种常用方法三跳】。纤法、双跳纤—法和单跳纤法—本，。标准推？荐使用“三》跳纤法”可选—择使用“双跳—纤，法”但不建议—使用“单跳纤法【”“单？跳纤法”《与“双跳纤法”相】比的区别在于被测光！纤插头？是直接与《仪表接口《。连接还是与校—准适配器连接由于被！测，光纤插头直接与仪表！接口连接容》易对：仪表接口造成污【染，和，磨，。损因此不建议在【。现，场使用？“单跳纤法” 【。     ！。 虽然本标准—不，推荐采用“单跳【纤法：。”进行测试》仪表的校《准，和光纤链路的—衰减：测试但还是将“单跳！纤法”进行说—明并与？“双跳纤法”进行】对比以供鉴别 ！ ， ，     》 “单跳纤法—”校准（图》2）时省去了校准】适配器和一》根跳纤？如图3显《示的是省去》了，功率计一侧跳纤的情！形如果去掉光—源一：。。侧跳纤只保留功率计！一侧跳？纤则效果《是一样的 【 】      测试时！需将校准跳纤—。的一端插《。。头，从设备接口上取下（！例如：从光功率《计接口取下）—接入被测光纤的连】接，器被测光纤另一端的！插，头直：接接入？仪表接口《如，图，4、图5所示 】 ： 【 ？