附录—A  测试仪表的】校准及光纤链路衰减！测试方法 —。 《 ，      测【试仪表的校准—及光纤？链路衰减《测，试有三种《常用方法三跳纤法、！双跳纤法和单跳纤法！本标：准推荐使用》“，三跳纤法”可选择】使用“双跳》纤法”但不建—议使用“单》跳纤法”《“，单跳纤法”与“双】跳纤法”相比—的区别在《于被测光《纤插头是直接与仪表！接口连接还》是与校准适配器连】接由于被《测光纤？插头：直接：与仪表接口连接容易！对仪表接口造—成污染和《磨损因？。此不建议《在，现场使用“单跳【纤法” 】      虽然】本标准？不推荐采用“单跳】纤法”进《行测试仪表的校准】和光纤链路的衰减测！试但还是将“单跳】纤法”？进行说明并与“【双跳纤法”进行对比！以供鉴？别， ？      】“单跳纤法”校准】（图2？）时省去了校准适配！器和一根跳纤如【图3显示的是省去】。了功率计一》侧跳纤的情形如果去！掉光源一侧跳纤只】保留：功率计一侧跳纤【。则效果是一》。样的 】   】。   测《试时需将校准跳【纤的一端插头—从设：备接口上《取下（例如从光功】率计接口取下）接入！被测光纤的》连接器被测光纤另一！端的插头直接接【入仪表接《口如图4、图5【所示 ？ 】 ， 《