附录—A  测试仪表的】。校准及光纤链路【衰减测试方法 ！ ：     【 测试仪表的校准及！。光纤链路衰减测试有！三种常用方法三跳】纤法、双跳纤法和单！跳纤法本标准推【荐使用“三跳—纤法”可选择使【用，“，双跳纤？法，”但不建议使用【“单：跳纤法”“单跳纤法！”与：“双跳纤法”相比】的，。。区别在于被测光【。纤插头是直接与【仪表接？。口连接还是与校【准适：配器连？接由于被《测光：纤插：头直：接与仪表接口—。连接容易对仪表【接，口造成污《染和磨损因》此不建议在现场【使用“单跳纤法【” ？     】 虽然本标》准不推？荐采用“单跳纤法】”进行？测试仪表的校准和光！纤链路的《衰减测试但还—是将“单跳》纤法：”进行说明并—与“双跳纤法”进行！对，。比以供鉴别 ！ ：     》“单跳纤法”校准】（，图2）时省》去了校？准适配？器和一根跳纤如图3！显示的是省去了功率！。计一侧跳《纤的情形如果去【掉光源一侧》跳纤只保留功率【计一侧跳纤则效【果是一？样的 ？ ？ —      测试！时需将校《准跳纤的《一端插头从》设备接口上取—下（例如从光功率】计接口取下）接入】被测光纤的连—接器被测光纤另一】。端的插头直接—接入仪？表接口如图》。4、图5所示 【 ！ 《