安全验证
? 16  》半导体?材料厂车间》电力设计《 , 》 , 16.《0.:2  ?因通电时间短其【他用电设备》尚未:投入运行此时—电源的负《荷率很低完全—可满足这些短时用】。电的:负荷:所以不必再计算这类!负荷的用电及无【功动率补偿 】 16.0【.3  三氯氢硅合!成炉:的工:频感应线圈有—三种:计算方法即变压【器法:、贝塞函数法和实】验曲线法本规范【推荐采用实验—曲线法该法是在某种!特定条?件下:用实际的感应加热器!做实:。验得出的曲线—并以此作为计算的基!。。础该:。法计算简洁》误差允许《便于应用 】 1?6.0.4  过】去这类电控设—计,电力和仪表专业由】于配合不《当常常出现各搞【一套的不协》调局面为改变这【种状况使《电控系统的设计更】加合理?更有利于监》控,和管理避免》。不协调现象继续发生!特制定此条 】    — 在控制室内—设,有正压?通风是为防止Si】HCI3(或S【i,Cl4)气体—。对电控设备的腐【蚀但吸风口应设【在户外或经》简易过滤装置保证控!制室内空气纯—净 1】6.0.5  【多晶硅的电气室是一!个专用的电气室为了!方便维护管理—减少占地面积—并经多年实践证明】高,、低:压设备同室布置【完全可行本》规范加以推》荐如电气《设备为油浸式冷【。却方式按防火要【求两设备之》间应设防火隔墙并设!排油:设,施 16!.0.6  为【减少电能损耗便【于维护管理多晶硅氢!还原炉电气室通常与!多晶硅氢还原炉室】上下毗邻为了防止三!氯氢:硅气体?。和氢气渗入电气室】所以:在两室之间》严禁:开设门窗及》其他孔洞电源线【的穿:越处应做严》密封堵为《安全:。起见与电《气室无关《的管道?不应通过电气室否】则应采?取隔离?设施 ? 》16.?0.:7  当还原炉高】压启:动和还原生产时【还原炉内常有异【。常现象发生需常去电!气室观察电气设备运!行情况因此在还原炉!控制室和电气室之】间设一个便于联【系的通道十》分必要 】 1:6.0.9  变压!器中:性线过热是各半导体!材,料厂:一致:反映的问《题采取了加大中性线!截面的措施》。效,果较好Dy》n11?型变压器《比,Yyn0型》变压器对于》限制三次谐》波降低零序阻抗【。提高单相短路电流】和保护装置的灵敏度!。具有明显的优越【性 《 16》.0.10  在】单晶炉?和区熔炉附近—设开关箱有利—于单晶炉、》区熔炉的《断电检修和调—试确:保安全? —16.?0,.,11:  单晶炉、区熔】炉及:物测室?的,测试仪器对》电压:稳定度要求较—高电压波动》直接影响单晶体【的形成?和测试?精,度因此对这些设备】最好由单独的变【压器供?电 16!.,0.:12  装设电【源滤波装置是为【了抑制区《熔,炉高频?装置2MC~4MC!高频电源沿》供电线路进行—传导干扰滤波器的】。。安装位置主》要考:虑线路?简洁就地《抑制所以《一,般是安装在》屏蔽室外墙的—电源进线处滤波器】的,接地:可借助屏蔽室的高】频接:地用镀锌铜》板制:作接:地装置是《根据北京劳防—所提供的实践资料】并征求上海电科所】的意见确《定的生产《厂,反映效果《良好高频《接地的接地线长【度应避开λ/4【及λ/4的奇数倍是!为了减?少接地线可能—出现的干扰当接地线!长度为?高频设备工作—波长的1/》4,或,1/4工作波长的奇!数倍时其阻抗为【无穷大?此时它相当》于一根天线可接收】或辐:射干:。扰信号故《应避开采用这个长】度设:计中接地线》做,得越短越好 — , 16.0.!13  本条规定是!为了:防止电源滤波—器,。未加屏蔽的配电线路!经高频耦合越过滤波!器对电源进行干【扰 《 16.—0.1?4 : 区:熔炉的槽路接地是】高频:装置要求的每台【设备单独《。设接地?装置是为了防止【相互干?扰 ?。 , ,。 16.0.15!  本条规》定是为了使》设,备冷却水断水能【及时发现并加以【保护防止断》水运行烧坏设备 ! ? 16?.0.16  物】。测,。室装设电源滤波【器是为了由》电,源线:传入高频干扰信号做!。成一点接地的目【的是防止不》同的大地电位—经屏蔽网《进,行,干扰 ? 《 16.0.—17  防止—经,电力、照明》线路及荧光灯的镇流!器向室内进行干扰 ! 16.0!.18? , 这:样做是为了减少泄】漏以提高屏》蔽室的屏蔽效—能 ?